电容式电压互感器分压电容介损现场

电容式电压互感器(简称CVT)的分压电容C₂电容量很大，如TYD110／-0.015的C₂为70～75nF。而500kV CVT的分压电容(C₂)的电容量高达140nF。按图1测量C₂的介质损耗时，必须注意测量时接触应良好，否则将带来较大的测量误差。?

图1为西林电桥正接线测量分压电容C₂的电容量和介质损耗原理接线图。测量引线C_X接于C₂下端δ点的接线螺栓上。试品为TYD110／-0.015，其3相介质损耗的测量值分别为：

A相：tanδC₂=0.52%；?

B相：tanδC₂=0.49%；?

C相：tanδC₂=0.47%?

其介质损耗值均超过电力部DL／T596-1996《电力设备预防性试验规程》的规定值tanδC₂≤0.2%(膜纸绝缘耦合电容器的介质损耗应不大于0.2%)。现场对上述三台CVT进行了更换。?

更换后，在试验室进行试验以寻找不合格的具体原因。在对试品检查时发现，三台CVT的δ接线螺栓均有锈迹，立即进行清除，再次试验，其结果分别为：

至此，已十分清楚，由于δ点接线螺栓的锈迹未清除，导致测量时接触不良，使三台合格的CVT，测量结果却不合格，造成了不必要的更换。?

图2为分析δ点接触不良的等效原理图。试品本身的等效电路为C_X、R_X并联，其等值介质损耗为tanδ_X=1/WC_XR_X。

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而δ点的接触电阻视为一集中电阻R_J。按图2等效电路，实测介质损耗为tanδ′_X。?

式中ωC_XR_J即为偏大的测量误差。由于TYD110／-0.015的分压电容C₂电容量一般为70～75nF，当R_J=200kΩ时，ωC_XR_J≈0.5%；当R_J=85Ω时，ωC_XR_J=0.2%，即达到《电力设备预防性试验规程》的规定值。而对500kV CVT由于分压电容C₂≈140nF，当R_J=45Ω时，ωC_XR_J=0.2%。也就是说，对此类大电容而介质损耗标准很小的试品，测量时，必须注意由于接触不良引起的偏大的测量误差。稍不注意就可能使分压电容C₂的介质损耗tanδC₂超过规程的规定值0.2%。所以当CVT分压电容C₂的介质损耗超出规程时，要检查试验接线是否接触良好。?

应该指出，对于一般试品由于其电容C_X仅为几百微微法(如套管、互感器等)所以一般即使有接触电阻R_J的影响，其值ωC_XR_J均很小亦可以忽略不计。而对于一些大电容试品(如变压器绕组间或绕组对地电容)其介质损耗的标准相对较大(最小值为0.8%)，所以ωC_XR_J的影响相对亦小一些。往往不会使实测tanδ超过规程的规定值。

结论：测量大电容小介损试品时，必须注意测量引线接触不良造成的偏大测量误差，尤其当实测介质损耗不合格时必须排除引线接触电阻的影响。